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陶瓷電容跟電解電容的失效原因分析

電容器電子電路的主要元件,在電路中有著許許多多的應(yīng)用,比如在直流電源電路中做低頻濾波,在抗干憂電路中做高次諧波濾波,在振蕩電路中做諧振元件等等,但是電容器同時也是電路中發(fā)生故障最多的電器元器件之一。以下介紹陶瓷電容和鋁電解電容的失效原因。

 

陶瓷電容器失效的原因分為外部因素和內(nèi)在因素:

1.陶瓷介質(zhì)內(nèi)空洞:導(dǎo)致空洞產(chǎn)生的主要因素為陶瓷粉料內(nèi)的有機(jī)或無機(jī)污染,燒結(jié)過程控制不當(dāng)?shù)取?nbsp;     

2.要原因與燒結(jié)過程中的冷卻速度有關(guān),裂紋和危害與空洞相仿。    

3.分層:多層陶瓷電容器的燒結(jié)為多層材料堆疊共燒。燒結(jié)溫度可以高達(dá)1000℃以上。層間結(jié)合力不強(qiáng),燒結(jié)過程中內(nèi)部污染物揮發(fā),燒結(jié)工藝控制不當(dāng)都可能導(dǎo)致分層的發(fā)生。     

外部因素主要為:溫度沖擊裂紋,主要由于器件在焊接特別是波峰焊時承受溫度沖擊所致,不當(dāng)返修也是導(dǎo)致溫度沖擊裂紋的重要原因。

     

電解電容器的失效原因:

1.電解液自然揮發(fā):

電解液的揮發(fā)速度隨溫度的升高而變快; 電解液的揮發(fā)速度與電容器的密封質(zhì)量有關(guān),無論在高溫還是在低溫條件下都要有良好的密封性。

    2.電解液的消耗:

漏電流所引起的電化學(xué)效應(yīng)消耗電解液,鋁電解電容器的壽命隨漏電流增加而減少。

    3.壽命:

高溫縮短鋁電解電容器壽命;  

高紋波電流縮短鋁電解電容器壽命; 

工作電壓過高縮短鋁電解電容器壽命;


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